[发明专利]基于序列模式的DRAM故障关联分析方法在审

专利信息
申请号: 201910832284.3 申请日: 2019-09-04
公开(公告)号: CN112445636A 公开(公告)日: 2021-03-05
发明(设计)人: 刘睿涛;宋长明;刘沙;钱宇;李伟东;张宏宇;龚道永;吴文斌 申请(专利权)人: 无锡江南计算技术研究所
主分类号: G06F11/07 分类号: G06F11/07;G06F16/215;G06F16/22;G06F16/2458
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 王健
地址: 214083 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开一种基于序列模式的DRAM故障关联分析方法,包括以下步骤:对故障数据库中的非DRAM故障进行过滤,获得所需的DRAM故障数据;获得DRAM故障序列数据库;建立序列DRAM故障序列数据库;采用GSP算法,设定支持度,扫描序列DRAM故障序列数据库,获取所有满足支持度要求的DRAM故障序列的支持度;筛选出DRAM严重故障与DRAM严重故障、DRAM非严重故障与DRAM严重故障的序列规则,并计算其置信度;筛选出置信度大于60%的序列规则;如果出现反映DRAM严重故障与DRAM严重故障的序列规则,则表明DRAM严重故障与DRAM严重故障存在关联性;如果未出现反映DRAM非严重故障与DRAM严重故障关联的序列规则,则表明DRAM非严重故障不会导致DRAM严重故障。本发明解决了故障分析与预测关心的预测预警问题,具备高可信性和通用性,优化了分析执行效率。
搜索关键词: 基于 序列 模式 dram 故障 关联 分析 方法
【主权项】:
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