[发明专利]检测光学成像模块的对准损耗有效

专利信息
申请号: 201910839606.7 申请日: 2019-09-06
公开(公告)号: CN110895191B 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: A·亚伯拉罕;R·D·帕杰拉;R·雷米兹 申请(专利权)人: 苹果公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;H04N5/225;H04N17/00
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 宿小猛
地址: 美国加*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开涉及检测光学成像模块的对准损耗。本文公开了一种成像装置,该成像装置包括外壳,其中成像光学器件安装在外壳中并且被配置为在外壳内的焦平面处形成位于外壳外部的对象的光学图像。包括检测器元件的矩阵的图像传感器定位在焦平面处,与成像光学器件对准,并且被配置为响应于入射在检测器元件上的光学辐射而输出电子图像信号。至少一个发射器被固定在外壳内并且被配置为朝向外壳内的一个或多个反射表面发射测试光束,该一个或多个反射表面朝向图像传感器反射测试光束。处理器被配置为处理由图像传感器响应于所反射的测试光束而输出的电子图像信号,以便检测图像传感器与成像光学器件的对准的变化。
搜索关键词: 检测 光学 成像 模块 对准 损耗
【主权项】:
暂无信息
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