[发明专利]一种基于均匀五元圆阵的测向方法、装置与设备有效
| 申请号： | 201910841305.8 | 申请日： | 2019-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN110728022B | 公开（公告）日： | 2023-06-02 |
| 发明（设计）人： | 尤明懿;陆安南 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第三十六研究所 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G01S3/00 |
| 代理公司： | 北京市隆安律师事务所 11323 | 代理人： | 权鲜枝;吴昊 |
| 地址： | 314033 *** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于均匀五元圆阵的测向方法、装置与设备。所述方法包括：计算均匀五元圆阵基于初始位置的第一代价函数，并提取所述第一代价函数目标值集合；计算均匀五元圆阵相对初始位置旋转预设角度后的第二代价函数，并提取所述第二代价函数的目标值集合；根据所述第一代价函数的目标值集合和所述第二代价函数的目标值集合，计算利用所述均匀五元圆阵测向得到的测向结果。本发明能够一定程度上降低错误解模糊的概率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 均匀 五元圆阵 测向 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
1.一种基于均匀五元圆阵的测向方法，其特征在于，所述方法包括：/n计算均匀五元圆阵基于初始位置的第一代价函数，并提取所述第一代价函数目标值集合；/n计算均匀五元圆阵相对初始位置旋转预设角度后的第二代价函数，并提取所述第二代价函数的目标值集合；/n根据所述第一代价函数的目标值集合和所述第二代价函数的目标值集合，计算利用所述均匀五元圆阵测向得到的测向结果；/n其中，所述第一代价函数和所述第二代价函数均用于表示相位误差。/n
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