[发明专利]用于校准射频测试室的系统和方法在审
申请号: | 201910841724.1 | 申请日: | 2019-09-06 |
公开(公告)号: | CN112054858A | 公开(公告)日: | 2020-12-08 |
发明(设计)人: | 亚历山大·纳林;梅克·库特坎普;马库斯·赫尔布里格;阿伊塔克·库尔特 | 申请(专利权)人: | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 |
主分类号: | H04B17/12 | 分类号: | H04B17/12;H04B17/00;H04B17/327;H04B7/0456 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 何月华 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: |
本发明涉及用于校准射频测试室的系统和方法。提供了一种用于校准射频测试室的系统(1)。所述系统包括具有以三维配置进行布置的多个天线元件(11 |
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搜索关键词: | 用于 校准 射频 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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