[发明专利]用于校准射频测试室的系统和方法在审

专利信息
申请号: 201910841724.1 申请日: 2019-09-06
公开(公告)号: CN112054858A 公开(公告)日: 2020-12-08
发明(设计)人: 亚历山大·纳林;梅克·库特坎普;马库斯·赫尔布里格;阿伊塔克·库尔特 申请(专利权)人: 罗德施瓦兹两合股份有限公司
主分类号: H04B17/12 分类号: H04B17/12;H04B17/00;H04B17/327;H04B7/0456
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 何月华
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及用于校准射频测试室的系统和方法。提供了一种用于校准射频测试室的系统(1)。所述系统包括具有以三维配置进行布置的多个天线元件(111,112,…,11N)的天线阵列(10)、在所述多个天线元件(111,112,…,11N)下游的多个功率测量单元(121,122,…,12N)、以及处理单元(13)。在该背景下,所述多个功率测量单元(121,122,…,12N)输出来自各个天线元件(111,112,…,11N)的与由入射的测试信号产生的辐射图相对应的功率。所述处理单元(13)被配置为分析所述测试信号的功率分布以便计算校准。
搜索关键词: 用于 校准 射频 测试 系统 方法
【主权项】:
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