[发明专利]测试控制装置、芯片及方法有效
| 申请号： | 201910847357.6 | 申请日： | 2019-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN110554305B | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | 卢新元;陈华军;许超 | 申请（专利权）人： | 龙芯中科技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 张宁;刘芳 |
| 地址： | 100095 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种测试控制装置、芯片及方法，该装置包括权限分析单元、测试控制单元、第一屏蔽单元、加密单元；所述权限分析单元，用于对待验证的权限信息进行验证，并在验证通过时向所述测试控制单元发送第一触发信号；所述测试控制单元，用于在接收到所述第一触发信号、以及第一测试控制信号时，向所述第一屏蔽单元发送第一指示信号，其中，所述第一测试控制信号用于指示进入测试模式，所述第一指示信号用于指示所述第一屏蔽单元将密钥信息传输至所述加密单元。本发明实施例能够在保证密钥安全性的前提下实现对密钥故障的测试，提高基于扫描链的扫描测试的测试覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 控制 装置 芯片 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试控制装置，其特征在于，包括：权限分析单元、测试控制单元、第一屏蔽单元、加密单元；/n所述权限分析单元与所述测试控制单元连接，所述测试控制单元与所述第一屏蔽单元连接；/n所述权限分析单元，用于对待验证的权限信息进行验证，并在验证通过时向所述测试控制单元发送第一触发信号；/n所述测试控制单元，用于在接收到所述第一触发信号、以及第一测试控制信号时，向所述第一屏蔽单元发送第一指示信号，其中，所述第一测试控制信号用于指示进入测试模式，所述第一指示信号用于指示所述第一屏蔽单元将密钥信息传输至所述加密单元。/n
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