[发明专利]一种多线列时差扫描图像辐射一致性校正方法有效
| 申请号： | 201910857179.5 | 申请日： | 2019-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN110580692B | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 高宏霞;潘忠石;王世涛;王虎妹;董小萌;刘晓磊 | 申请（专利权）人： | 北京空间飞行器总体设计部 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 高会允 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多线列时差扫描图像辐射一致性校正方法，能够有效校正线列扫描图像内部的非均匀现象，同时也可以消除线列间图像的整体辐射差异。该方案为：采用数量大于1个的线列进行时差扫描，每个线列由N个探测元组成，且结构一致；N为正整数；选取其中一个线列作为基准线列，以其他线列为待校正线列。采用基准线列进行扫描获得基准线列图像，对所述基准线列图像进行内部非均匀校正。采用所述待校正线列进行扫描获得待校正线列图像。所述待校正线列中探测元与所述基准线列中探测元一一对应，以校正后的所述基准线列图像中每一探测元的扫描区域计算校正基准参数，对所述待校正线列图像中对应探测元的扫描区域进行校正。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 多线列 时差 扫描 图像 辐射 一致性 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种多线列时差扫描图像辐射一致性校正方法，其特征在于，采用数量大于1个的线列进行时差扫描，每个线列由N个探测元组成，且结构一致；N为正整数；/n选取其中一个线列作为基准线列，以其他线列为待校正线列；/n采用基准线列进行扫描获得基准线列图像，对所述基准线列图像进行内部非均匀校正；/n采用所述待校正线列进行扫描获得待校正线列图像；/n所述待校正线列中探测元与所述基准线列中探测元一一对应，以校正后的所述基准线列图像中每一探测元的扫描区域计算校正基准参数，对所述待校正线列图像中对应探测元的扫描区域进行校正。/n
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