[发明专利]一种基于网表的超大规模芯片信息分析方法有效
申请号: | 201910859148.3 | 申请日: | 2019-09-11 |
公开(公告)号: | CN110619168B | 公开(公告)日: | 2023-08-11 |
发明(设计)人: | 胡向东;马彦;张新;王飙 | 申请(专利权)人: | 上海高性能集成电路设计中心 |
主分类号: | G06F30/367 | 分类号: | G06F30/367;G06F115/08 |
代理公司: | 上海泰能知识产权代理事务所(普通合伙) 31233 | 代理人: | 宋缨;钱文斌 |
地址: | 200120 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于网表的超大规模芯片信息分析方法,包括以下步骤:读入设计的完整网表,并根据该完整网表构建内部网表数据结构;指定所述内部网表数据结构任意一层作为顶层,自该顶层向下遍历并提取每一层次的信息,直到最底层晶体管;从提取出的信息中获取晶体管信息,并进行分类汇总。本发明可以快速准确的完成网表内容分析与信息统计。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 超大规模 芯片 信息 分析 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于网表的超大规模芯片信息分析方法,其特征在于,包括以下步骤:/n(1)读入设计的完整网表,并根据该完整网表构建内部网表数据结构;/n(2)指定所述内部网表数据结构任意一层作为顶层,自该顶层向下遍历并提取每一层次的信息,直到最底层晶体管;/n(3)从提取出的信息中获取晶体管信息,并进行分类汇总。/n
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