[发明专利]一种存储设备测试和自动分BIN的方法、装置以及设备有效

专利信息
申请号: 201910867062.5 申请日: 2019-09-12
公开(公告)号: CN110782941B 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: 李虎;李正 申请(专利权)人: 深圳市德明利技术股份有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙) 44439 代理人: 何兵;饶盛添
地址: 518000 广东省深圳市龙华区民治街*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明揭示了一种存储设备测试和自动分BIN的方法、装置以及设备。其中,一种存储设备测试和自动分BIN的方法,包括:测试自动分BIN机台根据测试结果数据信息,将已测试的存储设备分为存储容量合格、存储容量失效,以及无法测试存储容量三种类别。自动分BIN机台根据测试结果信息,分别将三种类别的存储设备转移至对应的第二承载板,避免装有存储容量合格的第二承载板中,混有存储容量失效以及无法测试存储容量的存储设备。通过机器测试和分类的方式,大幅提高测试和分类存储设备的速度。通过上述操作,与现有技术相比,大幅提高测试存储设备容量和分类存储设备的速度,以及大幅降低存储设备分类出错的概率,从而提高存储设备测试效率和分类效率。
搜索关键词: 一种 存储 设备 测试 自动 bin 方法 装置 以及
【主权项】:
1.一种存储设备测试和自动分BIN的方法,其特征在于,所述存储设备测试和自动分BIN方法具有对应的测试自动分BIN机台,所述测试自动分BIN机台包括测试区域、分类区域和成品区域,且所述测试自动分BIN机台具有对应的承载板,包括:/n所述测试自动分BIN机台进行机台自检;/n将装有待测试的存储设备的第一承载板传送至所述测试区域,并测试所有所述待测试的存储设备;/n判断是否获取到所有所述待测试的存储设备的测试结果数据信息,其中所述测试结果信息包括各所述待测试的存储设备对应的实际容量信息,并根据所述实际容量信息,将各已测试的存储设备分为存储容量合格、存储容量失效,以及无法测试存储容量三种类别;/n若是,则依次判断各所述已测试的存储设备是否处在所述第一承载板对应的预设位置;/n若是,则将处在所述第一承载板对应预设位置的所述已测试的存储设备判定为第一存储设备;/n根据所述测试结果数据信息,将各所述第一存储设备从所述第一承载板转移至对应的第二承载板,其中,所述第二承载板为位于所述分类区域的承载板;/n判断位于所述第二承载板的存储容量合格的所述第一存储设备是否达到预设数量;/n若是,则将装载有存储容量合格的所述第一存储设备的所述第二承载板从所述分类区域传送至成品区域。/n
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