[发明专利]半导体装置的制备方法有效
申请号: | 201910867285.1 | 申请日: | 2019-09-12 |
公开(公告)号: | CN112490181B | 公开(公告)日: | 2023-03-24 |
发明(设计)人: | 崔锺武;金成基 | 申请(专利权)人: | 夏泰鑫半导体(青岛)有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人: | 彭辉剑;龚慧惠 |
地址: | 266000 山东省青岛市黄岛区*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种半导体装置的制备方法,包括:提供一基板,所述基板中形成有沟槽,所述沟槽的槽壁上附着有氮化钛,所述沟槽中填充有导电材料;对沟槽中的导电材料进行干法蚀刻以部分去除沟槽中的导电材料;对沟槽的槽壁进行惰性气体离子轰击;对沟槽的槽壁进行湿法蚀刻;以及在所述沟槽中的导电材料上形成绝缘材料。通过利用惰性气体离子轰击沟槽的槽壁,从而破坏沟槽的槽壁上附着的杂质和氮化钛与槽壁的结合,以便后续更好地蚀刻去除槽壁上附着的杂质和氮化钛,进而保证产品整体的性能。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 制备 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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