[发明专利]一种热障涂层界面附近陶瓷层残余应力的无损测量方法在审
申请号: | 201910877410.7 | 申请日: | 2019-09-17 |
公开(公告)号: | CN110501105A | 公开(公告)日: | 2019-11-26 |
发明(设计)人: | 江鹏;王铁军;李定骏;杨镠育 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01L5/00 | 分类号: | G01L5/00;G01N21/64 |
代理公司: | 61200 西安通大专利代理有限责任公司 | 代理人: | 陈翠兰<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 710049 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种热障涂层界面附近陶瓷层残余应力的无损测量方法,包括步骤:1)对纯YSZ:Eu3+块体试样进行单轴加载,获得Eu3+离子荧光峰位与单轴应力的关系;2)根据平面等双轴应力和单轴应力转换公式,获得Eu3+离子荧光峰位与平面等双轴应力的关系;3)在TBC界面上方陶瓷层内的易开裂区预制一层掺杂Eu2O3的YSZ:Eu3+层将其作为应力传感层;4)采用荧光光谱仪发射532nm激光,从表面穿透TBC至界面YSZ:Eu3+应力传感层处,激发其荧光信号,并记录Eu3+离子荧光峰位信息;根据已获得的Eu3+离子荧光峰位与平面等双轴应力的关系,将测量得到的峰位转换成应力,从而得到YSZ:Eu3+应力传感层处的残余应力,此即为TBC界面附近陶瓷层残余应力。本发明用于直接反馈热障涂层界面损伤。 | ||
搜索关键词: | 峰位 离子荧光 残余应力 传感层 等双轴 陶瓷层 单轴应力 热障涂层 荧光光谱仪 单轴加载 界面损伤 块体试样 无损测量 荧光信号 直接反馈 转换公式 预制 穿透 掺杂 测量 激光 发射 转换 激发 记录 | ||
【主权项】:
1.一种热障涂层界面附近陶瓷层残余应力的无损测量方法,其特征在于,包括以下步骤:/n1)对纯YSZ:Eu3+块体试样进行单轴加载,获得Eu3+离子荧光峰位与单轴应力的关系;/n2)根据平面等双轴应力和单轴应力转换公式,获得Eu3+离子荧光峰位与平面等双轴应力的关系;/n3)在TBC界面上方陶瓷层内的易开裂区预制一层掺杂Eu2O3的YSZ:Eu3+层将其作为应力传感层;/n4)采用荧光光谱仪发射532nm激光,从表面穿透TBC至界面YSZ:Eu3+应力传感层处,激发其荧光信号,并记录Eu3+离子荧光峰位信息;根据已获得的Eu3+离子荧光峰位与平面等双轴应力的关系,将测量得到的峰位转换成应力,从而得到YSZ:Eu3+应力传感层处的残余应力,此即为TBC界面附近陶瓷层残余应力。/n
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