[发明专利]空间光束绝对位置测量装置及校准方法在审
| 申请号： | 201910886321.9 | 申请日： | 2019-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN110617787A | 公开（公告）日： | 2019-12-27 |
| 发明（设计）人： | 沙巍;李钰鹏;王智;方超;赵亚;王少鑫;齐克奇 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00 |
| 代理公司： | 22214 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王丹阳 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明为空间光束绝对位置测量装置及校准方法，涉及空间光学精密测量领域，解决了精密测量平台装调过程中无法对光束在特定全局坐标系下的绝对位置进行直接测量的问题。技术特征包括光束绝对位置测量机构；所述光束绝对位置测量机构包括基板、透镜组、半反半透镜组件以及两组反射镜组件、第一四象限探测器以及第二四象限探测器；所述透镜组、半反半透镜组件以及反射镜组件分别固定在基板上，所述透镜组放置在基板的最前端，所述半反半透镜固定在透镜组后，所述第一四象限探测器放置在半反半透镜组件上方，两组所述反射镜设置在半反半透镜组件的后方，所述第二四象限探测器放置在反射镜组件后侧一端。 | ||
| 搜索关键词： | 半反半透镜 四象限探测器 透镜组 绝对位置测量 反射镜组件 基板 两组 精密测量领域 反射镜设置 全局坐标系 精密测量 绝对位置 空间光束 空间光学 直接测量 校准 装调 | ||
【主权项】：
1.空间光束绝对位置测量装置及校准方法，其特征在于，包括光束绝对位置测量机构；/n所述光束绝对位置测量机构包括基板(5)、透镜组(2)、半反半透镜组件(4)以及两组反射镜组件(1)、第一四象限探测器(3)以及第二四象限探测器(6)；/n所述透镜组(2)、半反半透镜组件(4)以及反射镜组件(1)分别固定在基板(5)上，所述透镜组(2)放置在基板(5)的最前端，所述半反半透镜固定在透镜组(2)后，所述第一四象限探测器(3)放置在半反半透镜组件(4)上方，两组所述反射镜设置在半反半透镜组件(4)的后方，所述第二四象限探测器(6)放置在反射镜组件(1)后侧一端。/n
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