[发明专利]基于单色X射线衍射的布拉格角测量方法有效
| 申请号： | 201910891250.1 | 申请日： | 2019-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN110608828B | 公开（公告）日： | 2020-07-10 |
| 发明（设计）人： | 陈凯;寇嘉伟;朱文欣;沈昊 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G01L1/25;G01L5/00 |
| 代理公司： | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人： | 覃婧婵 |
| 地址： | 710049 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： |
本发明公开了一种基于单色X射线衍射的布拉格角测量方法，方法包括以下步骤：在待测样品上放置晶体粉末或者在待测样品旁边放置晶体粉末；移动X射线光源、线探测器和晶体粉末的相对位置，使得线探测器上能够同时出现n个来自于晶体粉末的衍射峰并测量其在线探测器上的坐标位置，并使得仅移动样品台便可测到待测布拉格角的衍射峰，构造方程组，求解方程组，得t |
||
| 搜索关键词： | 基于 单色 射线 衍射 布拉格 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于单色X射线衍射的布拉格角测量方法，所述方法包括以下步骤：/n第一步骤(S1)中，在待测样品上放置晶体粉末或者在待测样品旁边放置晶体粉末；/n第二步骤(S2)中，移动X射线光源、线探测器和晶体粉末的相对位置，使得线探测器上同时出现n个来自于晶体粉末的衍射峰并测量其在线探测器上的坐标位置，测到待测布拉格角的衍射峰，/n第三步骤(S3)，构造方程组：/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安交通大学，未经西安交通大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910891250.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
