[发明专利]低介电低损耗的5G应用材料及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201910898979.1 申请日: 2019-09-23
公开(公告)号: CN110655789A 公开(公告)日: 2020-01-07
发明(设计)人: 岑建军;吴春泉;张杰;吴武波;崔海龙;卢善波 申请(专利权)人: 宁波今山新材料有限公司
主分类号: C08L79/08 分类号: C08L79/08;C08L27/18;C08K3/36;C08K3/04;C08K3/08
代理公司: 33241 杭州斯可睿专利事务所有限公司 代理人: 唐迅
地址: 315176 浙江省宁*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了低介电低损耗的5G应用材料,包括位于中间的MPI材料层,以及包覆在MPI材料层上下两侧的LCP材料层,其中MPI材料层的厚度是25~75um,LCP材料层的厚度为12.5~50um。本发明得到的低介电低损耗的5G应用材料,厚度为50um~175um,低介电常数小于2.8,低介质损耗小于1.0×10
搜索关键词: 材料层 应用材料 低损耗 低介 低热膨胀系数 低介电常数 低介质损耗 低收缩率 上下两侧 包覆
【主权项】:
1.一种低介电低损耗的5G应用材料,包括位于中间的MPI材料层,以及包覆在MPI材料层上下两侧的LCP材料层,其中MPI材料层的厚度是25~75um,LCP材料层的厚度为12.5~50um。/n
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