[发明专利]一种可重复使用的高通量型太赫兹超材料快速检测方法有效
| 申请号： | 201910900152.X | 申请日： | 2019-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN110596107B | 公开（公告）日： | 2020-12-11 |
| 发明（设计）人： | 杨翔;杨柯;府伟灵 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军陆军军医大学第一附属医院 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84;G01N21/15;G01N1/40 |
| 代理公司： | 重庆航图知识产权代理事务所(普通合伙) 50247 | 代理人： | 王贵君 |
| 地址： | 400038 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明公开了可重复使用的高通量型太赫兹超材料快速检测方法，首先获取待测物并置于超材料芯片上；如果待测物直径大则采用滤过膜去除待测物中溶剂水分子；如果小则在待测物中加入具有捕获探针的磁珠，采用磁力吸引的方式分离待测物的溶剂水分子，使得待测物沉积于超材料芯片的表面上；然后将超材料芯片送入检测仪器中分别检测不同检测区域中的待测物；最后直至超材料芯片上所有检测区域上的待测物检测完毕。本发明提供的方法通过磁力吸引结合滤过膜来快速分离待测物质和溶剂水，在高精度阵列式移动载具上同时实现多个检测区域的高通量检测，以及检测后采用生物酶‑十二烷基硫酸钠‑异丙醇三联清洗方法实现超材料芯片的可重复使用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 重复使用 通量 赫兹 材料 快速 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种可重复使用的高通量型太赫兹超材料快速检测方法，其特征在于：包括以下步骤：/n获取待测物并置于超材料芯片的检测区域上；/n判断待测物直径是否超过预设值，如果是，则采用滤过膜去除待测物中溶剂水分子：将与超材料芯片匹配的过滤膜设置于待测物上方，并将过滤膜从上至下挤压待测物；除去过滤膜上方的溶剂水分子，直至将待测物沉积于超材料芯片表面上；/n如果否，则在待测物中加入具有捕获探针作用的磁珠，将待测物捕获到磁珠表面，然后在超材料芯片下方设置磁性材料层的吸引作用下，通过磁力吸引的方式分离待测物的溶剂水分子，使得待测物沉积于超材料芯片的表面上；/n将超材料芯片送人检测仪器中分别检测不同检测区域中的待测物；/n直至超材料芯片上所有检测区域上的待测物检测完毕。/n
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