[发明专利]光检测设备和光检测系统在审

专利信息
申请号: 201910902187.7 申请日: 2019-09-24
公开(公告)号: CN110970447A 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: 岩田旬史 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: H01L27/14 分类号: H01L27/14
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 宋岩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本申请涉及光检测设备和光检测系统。提供了光检测设备和包括光检测设备的光电转换系统,光检测设备包括雪崩二极管,雪崩二极管包括设置在第一深度处的具有第一导电类型的第一半导体区域、设置在相对于第一表面比第一深度深的第二深度处的具有第二导电类型的第二半导体区域、设置在相对于第一表面比第二深度深的第三深度处并且与第二半导体区域接触的第三半导体区域以及各自从第一深度延伸到第三深度的第一分离区域和第二分离区域。第二半导体区域和第三半导体区域各自从第一分离区域延伸到第二分离区域。第一半导体区域、第二半导体区域和第三半导体区域在平面图中具有彼此重叠的部分。
搜索关键词: 检测 设备 系统
【主权项】:
暂无信息
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