[发明专利]SRAM单元及包括SRAM单元的存储器和电子设备有效

专利信息
申请号: 201910902431.X 申请日: 2019-09-23
公开(公告)号: CN110634870B 公开(公告)日: 2022-03-18
发明(设计)人: 朱慧珑 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L27/11 分类号: H01L27/11;H01L29/78;H01L21/8244;B82Y40/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 倪斌
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 公开了一种静态随机存取存储(SRAM)单元及包括这种SRAM单元的存储器和电子设备。根据实施例,SRAM单元可以包括衬底上分两层设置的第一上拉晶体管、第二上拉晶体管、第一下拉晶体管、第二下拉晶体管、第一通过门晶体管和第二通过门晶体管。各晶体管均可以是竖直型晶体管。第一上拉晶体管和第二上拉晶体管可以设置在第一层上,而第一下拉晶体管、第二下拉晶体管、第一通过门晶体管和第二通过门晶体管可以设置与第一层处于不同高度的第二层上。第一上拉晶体管和第二上拉晶体管所在的区域与第一下拉晶体管、第二下拉晶体管、第一通过门晶体管和第二通过门晶体管所在的区域在相对于衬底的上表面的竖直方向上可以至少部分地交迭。
搜索关键词: sram 单元 包括 存储器 电子设备
【主权项】:
1.一种静态随机存取存储SRAM单元,包括:/n衬底上分两层设置的第一上拉晶体管、第二上拉晶体管、第一下拉晶体管、第二下拉晶体管、第一通过门晶体管和第二通过门晶体管,各晶体管均是竖直型晶体管,/n其中,第一上拉晶体管和第二上拉晶体管设置在第一层上,而第一下拉晶体管、第二下拉晶体管、第一通过门晶体管和第二通过门晶体管设置与第一层处于不同高度的第二层上,以及/n其中,第一上拉晶体管和第二上拉晶体管所在的区域与第一下拉晶体管、第二下拉晶体管、第一通过门晶体管和第二通过门晶体管所在的区域在相对于衬底的上表面的竖直方向上至少部分地交迭。/n
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