[发明专利]一种针对射频芯片热集中点的三维堆叠散热模组制作方法在审
申请号: | 201910904852.6 | 申请日: | 2019-09-24 |
公开(公告)号: | CN110739230A | 公开(公告)日: | 2020-01-31 |
发明(设计)人: | 郁发新;冯光建;张兵;王志宇;周琪 | 申请(专利权)人: | 杭州臻镭微波技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/48;H01L23/367;H01L23/473 |
代理公司: | 33283 杭州天昊专利代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人: | 董世博 |
地址: | 310030 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种针对射频芯片热集中点的三维堆叠散热模组制作方法,具体包括如下步骤:101)上散热底座制作步骤、102)散热底座制作步骤、103)芯片集成步骤;本发明通过在芯片底部设置散热微流通道做散热器,同时在芯片发热点位置或附近区域分布设置加装二次散热微流通道,使该区域热量能够更快的被散热流体带走,避免了热点因为热量较大而导致芯片失效的问题的一种针对射频芯片热集中点的三维堆叠散热模组制作方法。 | ||
搜索关键词: | 三维堆叠 散热底座 散热模组 射频芯片 微流通道 制作 散热 散热器 芯片 分布设置 附近区域 散热流体 芯片集成 芯片失效 发热点 加装 | ||
【主权项】:
1.一种针对射频芯片热集中点的三维堆叠散热模组制作方法,其特征在于:具体包括如下步骤:/n101)上散热底座制作步骤:上散热底座包括上层和下层,在上层和下层表面都通过沉积氧化硅或者氮化硅,或者直接热氧化形成绝缘层,通过物理溅射,磁控溅射或者蒸镀工艺在绝缘层上方制作种子层;在种子层上制作RDL;/n在上层和下层的上表面都通过光刻和刻蚀工艺制作微流沟槽;其中,微流沟槽直接通过射频芯片发热点区域,或者微流沟槽均匀分布在射频芯片发热点之外的区域;/n将上层和下层的上表面通过共晶键合工艺形成内部具有微流通的上散热底座;/n102)散热底座制作步骤:重复步骤101)制作下散热底座,将上散热底座和下散热底座通过共晶键合工艺进行键合;其中,上散热底座和下散热底座的微流沟槽呈交叉分布的方式进行堆叠设置;/n103)芯片集成步骤:在散热底座表面的相应位置处贴合射频芯片,形成三维堆叠散热模组。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州臻镭微波技术有限公司,未经杭州臻镭微波技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910904852.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:芯片封装体结构的制造方法
- 下一篇:一种三维堆叠射频光模块制作方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造