[发明专利]一种超高频RFID标签的验证测试方法及装置在审
| 申请号： | 201910904903.5 | 申请日： | 2019-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN110751000A | 公开（公告）日： | 2020-02-04 |
| 发明（设计）人： | 黄瑞;杨茂涛;刘谋海;胡军华;陈浩;申丽曼;吴志勇 | 申请（专利权）人： | 国网湖南省电力有限公司;国网湖南省电力有限公司供电服务中心(计量中心);国家电网有限公司 |
| 主分类号： | G06K7/00 | 分类号： | G06K7/00;G06K17/00 |
| 代理公司： | 43008 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) | 代理人： | 周长清;胡君 |
| 地址： | 410004 *** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开一种超高频RFID标签的验证测试方法及装置，该方法包括标签芯片射频测试步骤，步骤包括：S1.配置一可调衰减器及阅读器，可调衰减器的两端分别通过一同轴传输线与待测标签芯片、阅读器连接，构建得到射频测试装置；S2.通过调整可调衰减器的衰减值、阅读器的输出功率，使得待测标签芯片工作在最低功率，并测量最低功率时待测标签芯片的反射系数，根据最低功率、反射系数计算得到待测标签芯片的灵敏度值；调整待测标签芯片与阅读器之间的距离以调整待测标签芯片的入射功率，当入射功率达到计算的灵敏度值时，测量当前待测标签芯片的输入阻抗。本发明具有操作方法简单、实现成本低、验证测试效率以及精度高等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 标签芯片 阅读器 可调衰减器 反射系数 入射功率 验证测试 灵敏度 测量 射频测试装置 超高频 传输线 射频测试 输出功率 输入阻抗 构建 衰减 配置 | ||
【主权项】：
1.一种超高频RFID标签的验证测试方法，其特征在于，该方法包括标签芯片射频测试步骤，所述标签芯片射频测试步骤包括：/nS1.射频测试装置构建：配置一可调衰减器以及阅读器，所述可调衰减器的两端分别通过一同轴传输线与待测标签芯片、阅读器连接，构建得到用于超高频RFID标签芯片的射频测试装置；/nS2.灵敏度测试：通过调整所述射频测试装置中可调衰减器的衰减值、阅读器的输出功率，使得待测标签芯片工作在最低功率，并测量待测标签芯片工作在最低功率时待测标签芯片的反射系数，根据所述最低功率、反射系数计算得到待测标签芯片的灵敏度值；/nS3.输入阻抗测试：调整待测标签芯片与所述阅读器之间的距离以调整待测标签芯片的入射功率，当所述入射功率达到计算的所述灵敏度值时，测量当前待测标签芯片的输入阻抗。/n
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