[发明专利]检测基板及其制备方法、检测装置和检测方法有效
| 申请号： | 201910905291.1 | 申请日： | 2019-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN110634840B | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 吕志军;董立文;宋晓欣;张锋;崔钊;刘文渠;孟德天;王利波 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L23/544 | 分类号： | H01L23/544;H01L21/66;H01L27/15 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 曲鹏;解婷婷 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种检测基板及其制备方法、检测装置和检测方法。检测基板包括基底，所述基底包括多个通孔，所述通孔内嵌设有电极柱，所述基底包括检测区域和焊盘区域，所述检测区域包括驱动电路，所述焊盘区域设置有焊盘，所述焊盘通过所述驱动电路与所述电极柱连接。本发明通过引入检测基板，实现了在巨量转移前对发光元件进行点亮检测，保证了巨量转移前发光元件的良品率，降低了巨量转移后的修复比例，有效克服现有巨量检测方式不能保证巨量转移前发光元件的良品率等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 及其 制备 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种检测基板，其特征在于，包括基底，所述基底包括多个通孔，所述通孔内嵌设有电极柱，所述基底包括检测区域和焊盘区域，所述检测区域包括驱动电路，所述焊盘区域设置有焊盘，所述焊盘通过所述驱动电路与所述电极柱连接。/n
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