[发明专利]基于二维层状半导体材料的偏振光探测器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910915598.X 申请日: 2019-09-25
公开(公告)号: CN110620164B 公开(公告)日: 2021-06-08
发明(设计)人: 黄皖;魏钟鸣;文宏玉;李京波 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所;中国科学院大学
主分类号: H01L31/113 分类号: H01L31/113;H01L31/032;H01L31/0224;H01L31/18
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 吴梦圆
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种基于二维层状半导体材料的偏振光探测器、其制备方法及应用,该偏振光探测器包括基底和均设置在基底上的源电极、漏电极以及有源层;所述有源层设置在源电极和漏电极之间。本发明通过使用二维层状半导体材料作为有源层,而源电极、漏电极均为金属材料,选择合适的金属材料金,使半导体和金属的交界面为欧姆接触,保留材料本身的光电性质;本发明使用的二硫化铅锡具有高的光电响应率及偏振性,且光吸收区域覆盖紫外到近红外波段,在偏振光探测中有广泛的应用。
搜索关键词: 基于 二维 层状 半导体材料 偏振光 探测器 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种基于二维层状半导体材料的偏振光探测器,包括:基底和均设置在基底上的源电极、漏电极以及有源层;/n所述有源层设置在源电极和漏电极之间。/n
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