[发明专利]自动化测试设备装置有效
| 申请号： | 201910919801.0 | 申请日： | 2019-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN111426935B | 公开（公告）日： | 2022-07-08 |
| 发明（设计）人： | 斯德詹·马利西奇;迈克尔·琼斯;迟·阿尔伯特·袁 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 宗晓斌 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种自动化测试设备(ATE)装置包括：包含系统控制器的计算机系统，其中，所述系统控制器通信地耦合到测试器处理器和FPGA。所述系统控制器可用于从自所述系统控制器接收的指令生成命令和数据以用于协调被测器件(DUT)的测试，其中，所述DUT支持多个非标准扇区大小和多种保护模式。所述FPGA通信地耦合到所述测试器处理器，其中，所述FPGA包括至少一个硬件加速器电路，所述至少一个硬件加速器电路可用于在内部从所述测试器处理器透明地生成命令和数据以用于测试所述DUT，并且其中，所述至少一个硬件加速器电路能够执行运算以计算与所述多种保护模式相关联的保护信息并且生成被调整大小以适合所述多个非标准扇区大小中的每一个的可重复的测试图案。 | ||
| 搜索关键词： | 自动化 测试 设备 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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