[发明专利]参数校验方法、装置和服务器有效
| 申请号： | 201910922659.5 | 申请日： | 2019-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN110659019B | 公开（公告）日： | 2023-07-25 |
| 发明（设计）人： | 李瑞 | 申请（专利权）人： | 北京金山云网络技术有限公司;北京金山云科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F8/20 | 分类号： | G06F8/20 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 徐彦圣 |
| 地址： | 100000 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种参数校验方法、装置和服务器，其中，该方法包括：获取参数校验请求；该多个参数之间具有级别关系，该级别关系至少包括父子关系，具有父子关系的参数中父级参数包括子级参数；按照如下方法对多个参数从父级向子级依次进行校验，直至多个参数校验完毕：从预设的函数库中获取与当前待校验参数对应的校验函数；执行获取到的校验函数，得到校验结果。该方式中，所有的校验函数均保存在函数库中，对于需要交叉校验的参数，可以基于父级参数对应的校验函数进行校验，无需专门在请求函数中编写关于交叉校验的校验函数，该方式可以简化请求函数的逻辑，同时便于对校验函数进行维护和管理。 | ||
| 搜索关键词： | 参数 校验 方法 装置 服务器 | ||
【主权项】：
1.一种参数校验方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取参数校验请求；所述参数校验请求中包括多个参数，所述多个参数之间具有级别关系，所述级别关系至少包括父子关系，具有父子关系的参数中父级参数包括子级参数；/n按照如下方法对所述多个参数从父级向子级依次进行校验，直至所述多个参数校验完毕：/n从预设的函数库中获取与当前待校验参数对应的校验函数；其中，所述校验函数用于校验所述当前待校验参数，或者还用于对所述当前待校验参数中包括的子级参数进行交叉校验；/n执行获取到的所述校验函数，得到校验结果。/n
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