[发明专利]一种LED芯片光电性与外观一体化检测设备有效
申请号: | 201910924883.8 | 申请日: | 2019-09-27 |
公开(公告)号: | CN110581096B | 公开(公告)日: | 2023-09-05 |
发明(设计)人: | 王晓明;崔思远;文国昇;钟胜时;武良文 | 申请(专利权)人: | 江西兆驰半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/677;H01L21/68 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 何世磊 |
地址: | 330000 江西省南昌市南昌高新技*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | 本发明公开了一种LED芯片光电性与外观一体化检测设备,包括晶圆机器手臂,AOI检测视觉系统、AOI检测平台、料匣、机台、测针平台、测针移动平台;其中:料匣固定在机台的上下料放置区上,机台上安装有晶圆机器手臂、AOI检测视觉系统、AOI检测平台、测针平台、测针移动平台。本发明的优点在于:能利用晶圆机器手臂将AOI外观检测平台与光电性测试平台衔接起来,实现了两个平台之间的自动传送目的;另外点测平台增加CCD相机和激光测距仪实现精准的对位成像,再通过自动调针装置对XYZ轴进行伺服控制补偿,达到了自动调针的目的,减少了中间环节,提高了作业效率,节省了人力成本,同时减少了生产过程中的人员导致的异常情况。 | ||
搜索关键词: | 一种 led 芯片 光电 外观 一体化 检测 设备 | ||
【主权项】:
1.一种LED芯片光电性与外观一体化检测设备,包括晶圆机器手臂(1),AOI检测视觉系统(2)、AOI检测平台(3)、料匣(4)、机台(5)、测针平台(6)、测针移动平台(7);其特征在于:料匣(4)固定在机台(5)的上下料放置区上,机台(5)上安装有晶圆机器手臂(1)、AOI检测视觉系统(2)、AOI检测平台(3)、测针平台(6)、测针移动平台(7);/n所述晶圆机器手臂(1)由夹爪一(8)、夹爪二(9)、联动轴一(10)、联动轴二(11)、联动轴三(12)、联动轴四(13)、感应装置(14)、腔体(15)构成,联动轴四(13)连接联动轴二(11),联动轴三(12)连接联动轴一(10),联动轴四(13)与联动轴三(12)装进腔体(15)内,感应装置(14)与联动轴一(10)和联动轴二(11)连接,联动轴一(10)的前端安装有夹爪二(9),联动轴二(11)前端安装有夹爪一(8);/n所述料匣(4)由料匣把手(16)、料盒(17)、放置片源装置(18)构成,料匣把手(16)设置于料盒(17)上方,放置片源装置(18)安装于料盒(17)内。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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