[发明专利]离子束加工设备有效
申请号: | 201910944160.4 | 申请日: | 2019-09-30 |
公开(公告)号: | CN110718439B | 公开(公告)日: | 2020-12-18 |
发明(设计)人: | 张学军;薛栋林;尹小林;邓伟杰;唐瓦;徐振邦;张恩阳 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | H01J37/32 | 分类号: | H01J37/32 |
代理公司: | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 曹卫良 |
地址: | 130033 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本发明提供了一种离子束加工设备,其包括真空舱室,所述真空舱室内设有若干机械臂、若干法拉第杯扫描装置和若干定位基准校正装置;所述机械臂一端连接有机械臂升降装置,另一端连接有离子源;所述法拉第杯扫描装置用于对所述离子源的状态进行监测;所述定位基准校正装置用于确定光学元件在空间中的精确位置。与现有技术比较本发明的有益效果在于:该离子束加工设备整体的制造成本低,该离子束加工设备的加工精度和效率高。该离子束加工设备既可以应用于大口径光学元件的加工,同时也可以将其应用于多个中等口径元件的并行加工,这样能够提高设备利用率,减少设备闲置折损。 | ||
搜索关键词: | 离子束 加工 设备 | ||
【主权项】:
1.一种离子束加工设备,其特征在于,其包括真空舱室,所述真空舱室内设有若干机械臂、若干法拉第杯扫描装置和若干定位基准校正装置;所述机械臂一端连接有机械臂升降装置,另一端连接有离子源;所述法拉第杯扫描装置用于对所述离子源的状态进行监测;所述定位基准校正装置用于确定光学元件在空间中的精确位置。/n
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