[发明专利]掩膜板坯料、相移掩膜板及半导体器件的制造方法在审
申请号: | 201910950357.9 | 申请日: | 2014-01-14 |
公开(公告)号: | CN110673435A | 公开(公告)日: | 2020-01-10 |
发明(设计)人: | 野泽顺;宍戸博明;酒井和也 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G03F1/32 | 分类号: | G03F1/32;H01L21/027 |
代理公司: | 11105 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陈蕴辉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种掩膜板坯料、相移掩膜板及其它们的制造方法,根据该掩膜板坯料,即使在形成相移膜的材料中使用硅类材料的情况下,该相移膜在面内及膜厚方向上的组成以及光学特性的均匀性也较高,多个基板间的相移膜的组成以及光学特性的均匀性也较高,进而缺陷也较少。该掩膜板坯料的特征在于,在透光性基板上设有相移膜,所述相移膜以规定的透光率使ArF曝光光透过,且具有使透过的ArF曝光光产生规定量相移的功能,所述相移膜具有层叠了低透光层及高透光层的结构,所述低透光层及所述高透光层由以硅及氮形成的材料形成,或者由在该材料中含有从半金属元素、非金属元素以及稀有气体中选择的一种以上元素的材料形成,所述低透光层与所述高透光层相比,氮含量相对少。 | ||
搜索关键词: | 相移 低透光层 板坯料 高透光 掩膜 材料形成 光学特性 均匀性 曝光光 半金属元素 非金属元素 透光性基板 多个基板 硅类材料 膜厚方向 稀有气体 相移掩膜 透光率 制造 | ||
【主权项】:
1.一种掩膜板坯料,其在透光性基板上设有相移膜,所述掩膜板坯料的特征在于,/n所述相移膜以1%以上30%以下的透光率使ArF曝光光透过,且具有使透过所述相移膜的ArF曝光光,在与通过了与所述相移膜厚度为相同距离的空气中的ArF曝光光之间,产生170度以上190度以下的相位差的功能,/n所述相移膜具有层叠了第一硅含有层及第二硅含有层的结构,/n所述第一硅含有层及所述第二硅含有层由以硅及氮形成的材料形成,或者由含有从半金属元素、非金属元素以及稀有气体中选择的一种以上元素和硅及氮形成的材料形成,/n所述第一硅含有层及所述第二硅含有层含有氮,/n所述第一硅含有层与所述第二硅含有层相比,氮含量相对少。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于HOYA株式会社,未经HOYA株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910950357.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备