[发明专利]用于测试光敏设备降级的系统有效
| 申请号： | 201910950664.7 | 申请日： | 2016-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN110690856B | 公开（公告）日： | 2023-06-30 |
| 发明（设计）人： | M·D·埃尔文;J·拉芙莱斯;K·梅尔扎里克 | 申请（专利权）人： | 亨特钙钛矿技术有限责任公司 |
| 主分类号： | H02S50/10 | 分类号： | H02S50/10 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 宋岩 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了用于测试光敏设备降级的系统和方法。可以通过配置光敏设备测试系统来测试光敏设备随时间的性能，所述光敏设备测试系统包括将容器内的光敏设备暴露于指定光强度的光源板。光强度可以根据一个或多个阈值通过可编程电源来调节。测试可以持续设置的持续时间，并且在整个持续时间内以预定间隔进行性能测量。可以记录来自光敏设备测试系统的反馈，以确定是否增加光强度、停止测试、继续测试以及是否应当更改一个或多个环境条件。测量结果可以被发送到客户端进行分析和向用户显示。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 光敏 设备 降级 系统 | ||
【主权项】：
1.一种系统，包括：/n光源板，其中光源板发射一定强度水平的光；/n电池接口板；/n接近光源板并耦合到电池接口板的容器，其中容器包括一个或多个光敏设备，其中与所述一个或多个光敏设备的一个或多个像素相关联的一个或多个引脚与容器接口连接，并且其中容器将所述一个或多个引脚接口连接到电池接口板；/n接近光源板的光计量设备，其中光计量设备测量从光源板到光敏设备的发射强度；/n耦合到光源板的光电源，其中光电源对到光源板的电流和电压中的一个或多个进行控制；/n耦合到电池接口板的多路复用器，其中多路复用器激活寻址一个或多个像素的电路系统；以及/n耦合到多路复用器的测量设备，其中测量设备接收与一个或多个像素相关联的一个或多个性能测量结果。/n
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