[发明专利]射频激励响应测量设备及传递函数测量系统在审
| 申请号： | 201910953497.1 | 申请日： | 2019-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN110658233A | 公开（公告）日： | 2020-01-07 |
| 发明（设计）人： | 姜长青;龙天罡;李路明 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00 |
| 代理公司： | 11588 北京华仁联合知识产权代理有限公司 | 代理人： | 陈建 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种射频激励响应测量设备及传递函数测量系统，适用于直线构型试件，其中测量设备包括：底座，用于固定安装试件；激励输入部，固定安装在底座上，用于与试件电连接；移动部，安装在底座上且可沿试件长度方向移动，移动部上安装有测量线圈，测量线圈用于套设在试件上；响应输出部，与测量线圈电连接。通过在试件尖端施加射频激励，用测量线圈沿试件测量试件各处的激励响应，以此来计算试件的传递函数。进而可以采用试件例如植入物的传递函数来解耦植入物与人体模型，可以较为准确的对植入物和人体复杂的环境耦合进行模拟计算植入物的射频制热，较为准确的对植入物的射频制热进行评价。 | ||
| 搜索关键词： | 试件 植入物 测量 底座 传递函数 射频激励 移动部 射频 制热 长度方向移动 传递函数测量 线圈电连接 测量设备 测量试件 环境耦合 激励响应 计算试件 模拟计算 人体模型 响应测量 直线构型 电连接 解耦 施加 输出 响应 | ||
【主权项】：
1.一种射频激励响应测量设备，适用于直线构型试件，其特征在于，包括：/n底座，用于固定安装所述试件；/n激励输入部，固定安装在所述底座上，用于与所述试件电连接；/n移动部，安装在所述底座上且可沿试件长度方向移动，所述移动部上安装有测量线圈，所述测量线圈用于套设在所述试件上；/n响应输出部，与所述测量线圈电连接。/n
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