[发明专利]一种算法测试方法及系统在审
| 申请号： | 201910958896.7 | 申请日： | 2019-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN110750454A | 公开（公告）日： | 2020-02-04 |
| 发明（设计）人： | 张艳红;彭骏;吉纲;占涛;方自成;陈伟 | 申请（专利权）人： | 武汉普利商用机器有限公司;精伦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 11002 北京路浩知识产权代理有限公司 | 代理人： | 杨明月 |
| 地址： | 430000 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种算法测试方法及系统，该方法包括：获取第一待测试算法，并根据所述第一待测试算法的算法测试类型，将所述第一待测试算法封装成对应插件，得到封装后的第一待测试算法；根据所述算法测试类型，对算法测试模型的算法插件进行替换，以用于对封装后的第一待测试算法进行算法测试。本发明实施例通过将多种算法插件封装成具有相同输入输出的算法测试模型，当对不同待测试算法进行算法测试时，不需要重新编写或者修改测试程序，只需要对算法测试模型中的算法插件进行相应地更换，从而完成对不同待测试算法的测试，提高了算法测试的效率，减少了算法测试的时间成本。 | ||
| 搜索关键词： | 算法测试 测试算法 插件 封装 算法 测试程序 时间成本 替换 测试 输出 | ||
【主权项】：
1.一种算法测试方法，其特征在于，包括：/n获取第一待测试算法，并根据所述第一待测试算法的算法测试类型，将所述第一待测试算法封装成对应插件，得到封装后的第一待测试算法；/n根据所述算法测试类型，对算法测试模型的算法插件进行替换，以用于对封装后的第一待测试算法进行算法测试。/n
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