[发明专利]射频基带一体化终端自动测试系统的校准方法有效
| 申请号： | 201910965520.9 | 申请日： | 2019-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN110572223B | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 王晋杰;张宇 | 申请（专利权）人： | 成都华兴汇明科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/11 | 分类号： | H04B17/11;H04B17/13;H04B17/21 |
| 代理公司： | 成都君合集专利代理事务所(普通合伙) 51228 | 代理人： | 贾林 |
| 地址： | 610000 四川省成都市自由贸易试验*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了射频基带一体化终端自动测试系统的校准方法，射频基带一体化终端测试技术领域，通过功率计和频谱仪对每一个将射频基带一体化终端自动测试系统的接口进行频率和功率值测试，并通过矢量网络分析仪测试射频基带一体化终端自动测试系统的发射通道的通道损耗值，通过实测值与理论值的差值，得到校准值，以校准值进行校准。本发明公开的射频基带一体化终端自动测试系统的校准方法采用功率计、射频基带一体化终端自动测试系统自带的频谱仪和矢量网络分析仪对射频基带一体化终端自动测试系统中的接口进行测试，进而获得校准值，实现校准。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 基带 一体化 终端 自动 测试 系统 校准 方法 | ||
【主权项】：
1.射频基带一体化终端自动测试系统的校准方法，其特征在于：通过功率计和频谱仪对每一个将射频基带一体化终端自动测试系统的接口进行频率和功率值测试，并通过矢量网络分析仪测试射频基带一体化终端自动测试系统的发射通道的通道损耗值，通过实测值与理论值的差值，得到校准值，以校准值进行校准。/n
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