[发明专利]一种封装打线的键合方法有效

专利信息
申请号: 201910969417.1 申请日: 2019-10-12
公开(公告)号: CN110729207B 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 高峰;戴伟峰 申请(专利权)人: 闳康技术检测(上海)有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200120 上海市浦东新区中国(上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及芯片封装打线技术领域,公开了一种封装打线的键合方法,包括如下步骤:S1,在铝电极的待键合区域涂抹导电胶;S2,在金线的端部压设多个凹槽;S3,将金线设置有凹槽的端部埋设在导电胶内,并与铝电极抵紧;S4,通过超声波加热金线、铝电极以及导电胶,使导电胶固化,并使金线与铝电极键合;S5,截断多余的金线,采用导电胶保证铝电极与金线之间的电连接,由凹槽增加金线与导电胶之间的接触面积,从而提升金线与铝电极之间键合的稳定程度,不易脱键,可靠性高。
搜索关键词: 一种 封装 方法
【主权项】:
1.一种封装打线的键合方法,其特征在于,包括如下步骤:/nS1,在铝电极的待键合区域涂抹导电胶;/nS2,在金线的端部压设多个凹槽;/nS3,将所述金线设置有凹槽的端部埋设在所述导电胶内,并与所述铝电极抵紧;/nS4,通过超声波加热所述金线、所述铝电极以及所述导电胶,使所述导电胶固化,并使所述金线与所述铝电极键合;/nS5,截断多余的所述金线。/n
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