[发明专利]一种比色检测硫离子及浓度的方法及其检测试纸的制备在审
| 申请号： | 201910972044.3 | 申请日： | 2019-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN110687086A | 公开（公告）日： | 2020-01-14 |
| 发明（设计）人： | 汪晶;许萌;胡军;蒋晨星 | 申请（专利权）人： | 浙江工业大学上虞研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N1/28 |
| 代理公司： | 33332 杭州创造力专利代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 陈冲 |
| 地址： | 312300 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种比色检测硫离子及浓度的方法及其检测试纸的制备。本发明选用发射波长为520~540nm的CdTe量子点，仅使用一种的量子点就实现了比色检测的目标，利用明胶将量子点固定在玻璃纤维试纸上，成功制备了硫离子检测试纸。相比于其他方法，使用本方法检测硫离子简单，快速，成本低，可视化效果好，在分析化学、环境检测领域有着重要的应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 硫离子 比色检测 检测试纸 量子点 制备 分析化学 明胶 玻璃纤维 发射波长 环境检测 可视化 试纸 检测 应用 成功 | ||
【主权项】：
1.一种比色检测硫离子及浓度的方法，其特征在于：将CdTe量子点分散在超纯水中，所述CdTe量子点表面修饰的配体为巯基乙酸、巯基丙酸、N-乙酰-L-半胱氨酸中的一种；所述CdTe量子点的发射波长在515nm至540nm之间；所述CdTe量子点的浓度为1×10
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