[发明专利]一种磁存储器底电极及其制造工艺和磁存储器在审

专利信息
申请号: 201910972375.7 申请日: 2019-10-14
公开(公告)号: CN112736189A 公开(公告)日: 2021-04-30
发明(设计)人: 吴关平 申请(专利权)人: 上海磁宇信息科技有限公司
主分类号: H01L43/02 分类号: H01L43/02;H01L43/08;H01L43/12
代理公司: 上海容慧专利代理事务所(普通合伙) 31287 代理人: 于晓菁
地址: 201815 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种磁存储器底电极及其制造工艺和磁存储器,制造工艺包括:衬底片上已完成磁存储器底部金属导线制作及表面平坦化;依次沉积第一电介质层、第二电介质层、第三电介质层、第四电介质层和第五电介质层;光刻通孔图案;通过依次刻蚀所述第五电介质层、所述第四电介质层,停在所述第三电介质层,或者通过依次刻蚀所述第五电介质层、所述第四电介质层和第三电介质层,停在所述第二电介质层,以形成第一孔槽;沉积第六电介质层,填充所述第一孔槽;全片刻蚀,以使所述第六电介质层在所述第一孔槽内形成侧墙;继续刻蚀剩余的电介质层,形成通孔;通过所述通孔将后续制作的MTJ结构与所述金属导线电连接。
搜索关键词: 一种 磁存储器 电极 及其 制造 工艺
【主权项】:
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