[发明专利]芯片及其测试方法在审
| 申请号： | 201910974362.3 | 申请日： | 2019-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN112731121A | 公开（公告）日： | 2021-04-30 |
| 发明（设计）人： | 永昇平;薛培英;郭俊仪 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 黄艳;郑特强 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种芯片及芯片测试方法。所述芯片测试方法包含以下步骤：由编码电路输出多个测试序列至多个扫描链；由多个扫描链依据多个测试序列产生多个扫描输出数据；以及由解码电路依据多个扫描输出数据判断多个扫描链是否存在错误。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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