[发明专利]一种X射线应力测定仪检测装置的检测方法有效
| 申请号： | 201910980900.X | 申请日： | 2019-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN110542507B | 公开（公告）日： | 2021-07-27 |
| 发明（设计）人： | 刘元元;李亚飞;陈东;李丽;韩雨辰;宋嘉仪 | 申请（专利权）人： | 丹东浩元仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01L5/00 | 分类号： | G01L5/00;G01L1/25;G01N23/20008;G01N23/207 |
| 代理公司： | 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21234 | 代理人： | 李晓光 |
| 地址： | 118009 辽宁*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明公开一种X射线应力测定仪检测装置的检测方法，通过测角仪同倾装置，控制射线源旋转θs角、探测器旋转θd角进行步进扫描，实现同倾法对材料及材料制品的残余应力测量；通过测角仪侧倾装置，控制射线源旋转θs角、探测器旋转θd角进行步进扫描，实现侧倾法对材料及材料制品的残余应力测量；固定射线源旋转角θs、探测器旋转角θd在晶面{H,K,L}的衍射角，旋转测角仪侧倾装置，使测角仪等分角度旋转，转台旋转总成在360度内等距采集数据，完成完整极图测量。本发明为新材料研究及关键零部件的可靠性提供最可靠的检测手段，可实现对多领域的材料结构、不规则形状的零部件进行残余应力分析、残余奥氏体含量及织构精确测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 应力 测定 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种X射线应力测定仪检测装置的检测方法，其特征在于包括以下步骤：/n1)通过测角仪同倾装置，控制射线源旋转θs角、探测器旋转θd角进行步进扫描，实现同倾法对材料及材料制品的残余应力测量；/n2)通过测角仪侧倾装置，控制射线源旋转θs角、探测器旋转θd角进行步进扫描，实现侧倾法对材料及材料制品的残余应力测量；/n3)固定射线源旋转角θs、探测器旋转角θd在晶面{H,K,L}的衍射角，旋转测角仪侧倾装置，使测角仪等分角度旋转，转台旋转总成在360度内等距采集数据，完成完整极图测量；/nX射线应力测定仪检测装置包括测角仪同倾装置、测角仪侧倾装置、四轴检测平台以及壳体总成，其中，测角仪同倾装置、测角仪侧倾装置以及四轴检测平台均安装于壳体总成内，壳体总成中设有安装平台，测角仪侧倾装置通过支架底板固定安装于安装平台上；四轴检测平台固定安装于支架底板上，测角仪同倾装置安装于测角仪侧倾装置的支撑板上，被测零部件放置在四轴检测平台上。/n
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