[发明专利]射频芯片引脚阻抗测试方法有效
| 申请号： | 201910982182.X | 申请日： | 2019-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN110646674B | 公开（公告）日： | 2022-04-01 |
| 发明（设计）人： | 何其波 | 申请（专利权）人： | 普联技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 李木燕 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区深南路科技*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请适用于芯片测试技术领域，提供了一种射频芯片引脚阻抗测试方法，包括：测试测试板上单个测试夹具的散射参数；测试负载调谐器与测试夹具连接端口的阻抗参数；根据测试夹具的散射参数和阻抗参数得到射频芯片输出引脚的负载阻抗。通过上述方法能够得到精确的射频芯片输出引脚的负载阻抗，有效指导输出匹配电路的设计及调试。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 芯片 引脚 阻抗 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种射频芯片引脚阻抗测试方法，其特征在于，包括：/n测试测试板上单个测试夹具的散射参数；/n测试负载调谐器与所述测试夹具连接端口的阻抗参数；/n根据所述测试夹具的散射参数和所述阻抗参数得到射频芯片输出引脚的负载阻抗。/n
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