[发明专利]一种用于微控流芯片实验的试样采加样系统

摘要

本发明涉及微流控芯片实验辅助装置领域，具体的说是一种用于微控流芯片实验的试样采加样系统。包括采样加样器和用于辅助采样加样器进行采样的采样辅助器；采样加样器包括试样管、可滑动插设在试样管末端的推进杆以及可拆卸连接在试样管头端的采样针，在试样管上设有用于与采样辅助器配合安装的装配凸起，在推进杆上设有供采样辅助器推动推进杆滑动以进行采样的推进帽；采样辅助器包括管体以及设置在管体上的采样执行装置和采样量调节装置；本发明能够方便实验人员使用该加样器进行采样并向芯片中加样。

主权项

1.一种用于微控流芯片实验的试样采加样系统，其特征在于：包括采样加样器（3）和用于辅助采样加样器（3）进行采样的采样辅助器；/n采样加样器（3）包括试样管（304）、可滑动插设在试样管（304）末端的推进杆（302）以及可拆卸连接在试样管（304）头端的采样针（306），在试样管（304）上设有用于与采样辅助器配合安装的装配凸起（305），在推进杆（302）上设有供采样辅助器推动推进杆（302）滑动以进行采样的推进帽（301）；/n采样辅助器包括管体（2）以及设置在管体（2）上的采样执行装置（4）和采样量调节装置（1）；管体（2）包括可拆卸连接的上槽盖（202）和下槽盖（201），上槽盖（202）和下槽盖（201）的槽体部分相对配合以共同形成用于容纳采样加样器（3）和采样量调节装置（1）的管腔，在与管腔前端相对应的上槽盖（202）和下槽盖（201）的内侧均开设有供装配凸起（305）配合安装的装配槽（6）；采样执行装置（4）包括滑动设置在下槽盖（201）上并靠近装配槽（6）位置的提升杆（403），在下槽盖（201）上沿下槽盖（201）长度方向开设有供提升杆（403）滑动配合的条状滑孔（8），提升杆（403）的一端穿过条状滑孔（8）插设在管腔中并固定设有拨叉（402），拨叉（402）与推进帽（301）朝向采样针（306）的一侧接触配合，提升杆（403）的另一端位于管腔外部并固定设有提升滑块（401）；采样量调节装置（1）包括可转动设置于管腔中的调节轴（103）和可沿管腔长度方向滑动设置于管腔中的限位头（104），限位头（104）设置在采样加样器（3）和调节轴（103）之间的位置，限位头（104）朝向采样加样器（3）的一侧用于与推进帽（301）接触配合以限位推进帽（301）的滑动位置，限位头（104）朝向调节轴（103）的一侧与调节轴（103）螺纹连接，并可通过转动调节轴（103）来调节限位头（104）的限位位置。/n