[发明专利]一种基于TMR监控式的高性能抗辐照加固系统及方法有效
申请号: | 201910983602.6 | 申请日: | 2019-10-16 |
公开(公告)号: | CN110750391B | 公开(公告)日: | 2022-08-02 |
发明(设计)人: | 李俊龙;杨亮;桂江华 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
主分类号: | G06F11/18 | 分类号: | G06F11/18 |
代理公司: | 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 | 代理人: | 杨立秋 |
地址: | 214000 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开一种基于TMR监控式的高性能抗辐照加固系统及方法,属于集成电路技术领域。基于TMR监控式的高性能抗辐照加固系统中的处理器包括主内核、第一备用内核、第二备用内核、第一监控模块和第二监控模块;所述第一备用内核、所述第二备用内核和所述主内核的性能和容错能力均不相同;其中所述主内核的性能最高且容错能力最低;所述第一监控模块和第二监控模块分别监测所述主内核和所述第一备用内核的状态,以及在其试图恢复运行时进行可接受测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 tmr 监控 性能 辐照 加固 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于TMR监控式的高性能抗辐照加固系统,包括处理器,其特征在于,所述处理器包括主内核、第一备用内核、第二备用内核、第一监控模块和第二监控模块;/n所述第一备用内核、所述第二备用内核和所述主内核的性能和容错能力均不相同;其中所述主内核的性能最高且容错能力最低;/n所述第一监控模块和第二监控模块分别监测所述主内核和所述第一备用内核的状态,以及在其试图恢复运行时进行可接受测试。/n
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