[发明专利]一种用于晶体实验研究的线具切割装置在审
| 申请号： | 201910987956.8 | 申请日： | 2019-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN110614729A | 公开（公告）日： | 2019-12-27 |
| 发明（设计）人： | 范茁宁;刘福生;华颖鑫;任月虹;钟汩;吴浪;刘其军;甘云丹;韦丁 | 申请（专利权）人： | 西南交通大学 |
| 主分类号： | B28D5/04 | 分类号： | B28D5/04;B28D7/04;B28D7/00;G01N1/04 |
| 代理公司： | 51281 成都华飞知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 徐鸿 |
| 地址： | 610031 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于晶体实验研究的线具切割装置，包括底座、滑轨、滑块、纵向调节机构、高度调节机构、样品台、切割线、以及两个固定杆，所述固定杆设置在底座的两端，所述切割线的两端分别与固定杆可拆卸连接，所述滑轨设置在底板上，所述滑块设置在滑轨上，且滑块沿滑轨自由移动，所述纵向调节机构、高度调节机构分别设置在滑块上，所述样品台顶部设置有晶体槽，所述晶体槽用于放置晶体。本发明通过控制滑块移动，使得固定在样品台上的晶体与切割线发生相对运动，利用切割线对晶体进行切割，同时控制纵向调节机构和高度调节机构调节精度，实现毫米级三维调节，就能够完成对晶体的精确切割，得到使用者想要得到的样品厚度，方便实验研究。 | ||
| 搜索关键词： | 切割线 滑轨 滑块 高度调节机构 纵向调节机构 固定杆 实验研究 晶体槽 样品台 底座 切割 底板 可拆卸连接 顶部设置 控制滑块 切割装置 三维调节 毫米级 晶体的 移动 | ||
【主权项】：
1.一种用于晶体实验研究的线具切割装置，其特征在于：包括底座、滑轨、滑块、纵向调节机构、高度调节机构、样品台、切割线以及两个固定杆，两个固定杆分别设置在底座的左右两侧，所述切割线的两端分别与固定杆可拆卸连接，所述滑轨设置在底座上，所述滑块设置在滑轨上，且滑块能沿滑轨左右移动，所述纵向调节机构、高度调节机构分别设置在滑块上，纵向调节机构用于调节样品台的前后横向位置，高度调节机构用于调节样品台的上下高度位置，所述样品台顶部设置有晶体槽，所述晶体槽用于放置晶体。/n
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