[发明专利]一种基于光电二极管阵列的辐照强度分布测量方法有效
| 申请号： | 201910995363.6 | 申请日： | 2019-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN110793628B | 公开（公告）日： | 2020-08-18 |
| 发明（设计）人： | 魏进家;张高明;习成思;丁锐;张亮;王泽昕 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 郭瑶 |
| 地址： | 710049 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 一种基于光电二极管阵列的辐照强度分布测量方法，利用光电二极管光生电流与辐照强度成正比的关系，将辐照强度测量转换为光电二极管光生电流的测量，在需要进行辐照强度测量的平面上布置光电二极管阵列，从而以光电二极管阵列的光生电流分布反映辐照强度的分布。本发明可以测量辐照强度的分布，而且光电二极管的有效受光面积较小，相邻辐照强度测量点之间步长较短，保证了测量的精度。而且采用两排光电二极管插空排列的方式弥补了因边框和正负接线端占用的面积，做到了在一个方向上辐照强度分布完全覆盖。另外，可以定量评估辐照强度分布的非均匀度，为进一步探索辐照强度非均匀性对聚光光伏光热系统总体性能参数的影响作了铺垫。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光电二极管 阵列 辐照 强度 分布 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于光电二极管阵列的辐照强度分布测量方法，其特征在于，包括以下步骤：/n1)固定光电二极管阵列中的每个光电二极管在线路板上，并将每个光电二极管与数据采集记录系统通过信号线连接；/n2)将光电二极管阵列置于聚光光伏光热系统的聚光面上，通过数据采集记录系统采集和记录光电二极管的光生电流；/n3)由标准模拟光源下测量得到的光生电流以及步骤2)中得到的光电二极管的光生电流计算得到聚光面上各个光电二极管接收到的辐照强度大小；再根据光电二极管阵列的辐照强度大小，计算辐照非均匀度。/n
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