[发明专利]一种气体中汞的检测系统和检测方法在审
| 申请号： | 201911001312.3 | 申请日： | 2019-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN110658133A | 公开（公告）日： | 2020-01-07 |
| 发明（设计）人： | 敖小强;杨露露 | 申请（专利权）人： | 北京雪迪龙科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/31 |
| 代理公司： | 11446 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 张羽;姚志远 |
| 地址： | 102206 北京市昌*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及气体中汞的检测系统和检测方法。检测系统包括光源、双光束生成装置、测量池、参比池、汞吸附装置；双光束生成装置将光源发出的单光束分成平行的第一光束和第二光束，第一光束通过第一光路射向参比池，第二光束通过第二光路射向测量池；汞吸附装置用于吸附除去汞；测量池的出气口和汞吸附装置的进气口之间通过第一气路连接，汞吸附装置的出气口和参比池的进气口之间通过第二气路连接。本申请提出的气体中汞的检测系统，不需要增加背景气去除装置，无需测定背景气的组分，且不需要昂贵的贵金属材料作为汞吸附剂，进而提高了抗气体干扰的能力，降低了设备成本，能够用于现场实时检测过程，适用范围较广泛。 | ||
| 搜索关键词： | 汞吸附 检测系统 参比池 测量池 进气口 光束通过 气路连接 生成装置 背景气 出气口 双光束 光路 光源 贵金属材料 汞吸附剂 气体干扰 去除装置 设备成本 实时检测 单光束 吸附 平行 检测 申请 | ||
【主权项】：
1.一种气体中汞的检测系统，其特征在于，所述检测系统包括光源、双光束生成装置、测量池、参比池、汞吸附装置；/n所述双光束生成装置将所述光源发出的单光束分成平行的第一光束和第二光束，所述第一光束通过第一光路射向所述参比池，所述第二光束通过第二光路射向所述测量池；/n所述测量池、参比池和所述汞吸附装置均设置有进气口和出气口；/n所述汞吸附装置用于吸附除去汞；/n所述测量池的出气口和所述汞吸附装置的进气口之间通过第一气路连接，所述汞吸附装置的出气口和所述参比池的进气口之间通过第二气路连接。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京雪迪龙科技股份有限公司，未经北京雪迪龙科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911001312.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：测量装置、电子设备以及测量方法
- 下一篇：一种水质分析仪系统
