[发明专利]校准阻抗测量设备在审
| 申请号： | 201911005916.5 | 申请日： | 2019-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN112305480A | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | M·卡斯帕 | 申请（专利权）人： | 是德科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京坤瑞律师事务所 11494 | 代理人： | 封新琴 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种校准用于测量dut阻抗(145)的阻抗测量设备(100)的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 阻抗 测量 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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