[发明专利]数据擦除命令测试方法和相关装置有效

专利信息
申请号: 201911006361.6 申请日: 2019-10-22
公开(公告)号: CN110767258B 公开(公告)日: 2022-03-22
发明(设计)人: 杨明娟 申请(专利权)人: 江苏芯盛智能科技有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56;G11C16/34
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 张磊
地址: 213000 江苏省常州市武进*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请的实施例提供了一种数据擦除命令测试方法和相关装置,涉及命令测试领域。方法包括:将预设数据写入存储设备的多个存储区域,其中,多个存储区域占据存储设备的存储空间的一部分;执行待测试的数据擦除命令对每个存储区域进行数据擦除;在对每个存储区域进行数据擦除完成后,当每个存储区域中的擦除数据均符合数据擦除命令对应的擦除结果时,确定数据擦除命令在存储设备上正常执行。由于多个存储区域占据存储设备的存储空间的一部分,在存储设备上执行待测试的数据擦除命令能够更快速地完成数据擦除,故而能够减少从物理层面将数据删除的命令的测试时间,提高测试效率,并减小对存储设备的磨损。
搜索关键词: 数据 擦除 命令 测试 方法 相关 装置
【主权项】:
1.一种数据擦除命令测试方法,其特征在于,包括:/n将预设数据写入存储设备的多个存储区域,其中,所述多个存储区域占据所述存储设备的存储空间的一部分;/n执行待测试的数据擦除命令对每个所述存储区域进行数据擦除,以将所述预设数据修改为擦除数据;/n在对每个所述存储区域进行数据擦除完成后,判断每个所述存储区域中的擦除数据是否均符合所述数据擦除命令对应的擦除结果;/n当每个所述存储区域中的擦除数据均符合所述数据擦除命令对应的擦除结果时,确定所述数据擦除命令在所述存储设备上正常执行。/n
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