[发明专利]一种结合PMS技术约简集成电路测试模式集的方法有效
| 申请号： | 201911012630.X | 申请日： | 2019-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN110687433B | 公开（公告）日： | 2021-11-12 |
| 发明（设计）人： | 周慧思;张立明;欧阳丹彤 | 申请（专利权）人： | 吉林大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 | 代理人： | 朱世林;牟风平 |
| 地址： | 130012 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用Partial MaxSAT求解器约简集成电路测试模式集的方法，属于数字电路测试技术领域。本方法首先利用Tetra MAX自动测试模式生成工具生成测试模式集合；然后对测试模式集合中的每个测试模式得到其可以检测到的故障集，通过测试模式与可检测故障的对应关系矩阵生成PMS子句集合，将该集合作为输入，利用Partial Max SAT求解器得到一个极小测试模式集，从而缩减测试集规模。本发明降低了芯片在开发中的测试花销，实现了测试模式集的规模的静态压缩，提高了测试效率，能加快电子产品上市时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 结合 pms 技术 集成电路 测试 模式 方法 | ||
【主权项】：
1.结合PMS技术约简集成电路测试模式集的方法，其特征在于，至少包括如下步骤：/n步骤1：生成测试所需的电路文件以及对应的协议文件；/n步骤2：利用自动测试模式生成工具生成故障列表和其对应的测试模式集合；/n步骤3：根据测试模式集合生成相对应的模式故障矩阵；/n步骤4：根据模式故障矩阵及PMS问题硬子句集特点，生成PMS硬子句集；/n步骤5：根据模式故障矩阵得到测试向量集合，结合PMS问题软子句集特点，生成PMS软子句集；/n步骤6：将PMS子句集并作为PMS SAT求解器的输入，求解得到约简测试模式集；/n步骤7：对约简后每个极小测试模式集的覆盖率进行验证，并输出所有极小测试模式集。/n
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