[发明专利]一种基于单量子点测量共聚焦显微镜探测效率的方法有效
| 申请号： | 201911015036.6 | 申请日： | 2019-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN110779903B | 公开（公告）日： | 2021-07-02 |
| 发明（设计）人： | 张国峰;李斌;陈瑞云;秦成兵;胡建勇;肖连团;贾锁堂 | 申请（专利权）人： | 山西大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01J1/44 |
| 代理公司： | 太原市科瑞达专利代理有限公司 14101 | 代理人： | 李富元 |
| 地址： | 030051 山*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明属于共聚焦显微镜成像技术领域，一种基于单量子点测量共聚焦显微镜探测效率的方法，使用matlab软件对得到的原始数据即单量子点的每一个荧光光子的到达时间进行后处理，得到荧光强度轨迹图和荧光强度‑寿命分布图；从荧光强度轨迹图提取“亮态”光子构建时间分辨荧光光谱和二阶关联函数，并由此计算出每脉冲平均光子数；由荧光强度‑寿命分布图拟合得出“亮态”单激子量子产率；结合每脉冲平均光子数，“亮态”单激子量子产率和激光器的重复频率计算出共聚焦显微镜的探测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 量子 测量 聚焦 显微镜 探测 效率 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于单量子点测量共聚焦显微镜探测效率的方法，其特征在于：按照如下的步骤进行/n（a）使用matlab软件对得到的原始数据即单量子点的每一个荧光光子的到达时间进行后处理，得到荧光强度轨迹图和荧光强度-寿命分布图；/n（b）从荧光强度轨迹图提取“亮态”光子构建时间分辨荧光光谱和二阶关联函数，并由此计算出每脉冲平均光子数；/n（c）由荧光强度-寿命分布图拟合得出“亮态”单激子量子产率；/n（d）结合每脉冲平均光子数，“亮态”单激子量子产率和激光器的重复频率计算出共聚焦显微镜的探测效率。/n
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