[发明专利]基于微波光子学的宽范围高精度微波频率测量方法及装置

摘要

一种基于微波光子学的宽范围高精度微波频率测量方法及装置，属于微波光子学技术领域。由可调激光器、耦合器、相位调制器、强度调制器1、强度调制器2、滤波器、矢量网络分析仪、隔离器、单模光纤1、单模光纤2、环形器1、环形器2、微波信号源1、微波信号源2、直流稳压电源1、直流稳压电源2、光电转换器组成。由矢量网络分析仪测量出幅频特性曲线与相频特性曲线，进而实现未知信号频率的粗略测量和精确测量。本发明采用两个泵浦光，实现增益谱损耗谱抵消，增加多频测量范围；本发明基于布里渊散射相频特性构建相移‑频率函数曲线，通过相移‑频率函数曲线得到待测微波信号的频率值，提高了测量的精度。

主权项

1.一种基于受激布里渊增益谱损耗谱相抵消和相移谱的微波频率测量装置，其特征在于：是由可调激光器、耦合器、相位调制器、第一强度调制器1、第二强度调制器2、滤波器、矢量网络分析仪、隔离器、第一单模光纤1、第二单模光纤2、第一环形器1、第一环形器2、第一微波信号源1、第二微波信号源2、第一直流稳压电源1、第二直流稳压电源2、光电转换器组成；/n可调激光器输出的光信号进入到耦合器中，耦合器将光信号分为第一支路和第二两个支路，第一支路的光信号输入到相位调制器中，被矢量网络分析仪输出的一系列等频率间隔的扫频微波信号调制，相位调制器输出的信号经过隔离器进入第二单模光纤2中，作为受激布里渊散射效应的探测光；/n耦合器输出的第二支路的光信号由1端口输入到第一环形器1中，再从2端口输出到第一单模光纤1中，在第一单模光纤1中发生受激布里渊散射效应，布里渊频移为V