[发明专利]一种痕量化合物测量装置及其测量方法有效
| 申请号： | 201911020675.1 | 申请日： | 2019-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN110687192B | 公开（公告）日： | 2022-04-22 |
| 发明（设计）人： | 刘文杰;敬国兴;李文山;刘文;于建娜 | 申请（专利权）人： | 湘潭大学 |
| 主分类号： | G01N27/64 | 分类号： | G01N27/64 |
| 代理公司： | 成都方圆聿联专利代理事务所(普通合伙) 51241 | 代理人： | 胡文莉 |
| 地址： | 411105 *** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种痕量化合物测量装置及其测量方法，包括：电极A、电极B、离子源、阵列检测器和绝缘材料；电极A和电极B相对设置，电极A表面设置有离子引入狭缝，电极B表面设有离子引出狭缝；离子源设置于电极A外侧；阵列检测器设置于电极B外侧；绝缘材料、电极A和电极B形成离子分离通道；离子分离通道前后设气体引入和气体引出接口；离子分离通道中，离子由离子引入狭缝引入，经由离子分离通道后在电场引导下经离子引出狭缝引出在阵列检测器上得到信号。本发明的优点是：从行为学和统计学上验证了实验的准确性。扩展了传统ERP，将诱发电位应用于脑信息加工的研究中。对神经科学的发展具有重要意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 痕量 化合物 测量 装置 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种痕量化合物测量装置，其特征在于，包括：电极A、电极B、离子源、阵列检测器和绝缘材料；/n电极A和电极B相对设置，其中电极A表面设置有离子引入狭缝，电极B表面设有与离子引入狭缝相垂直的离子引出狭缝；离子源设置于电极A外侧；阵列检测器设置于电极B外侧；/n绝缘材料形状为中空的矩形，电极A和电极B分别由绝缘材料的上壁和下壁包裹，绝缘材料、电极A和电极B形成离子分离通道；离子分离通道前后设气体引入和气体引出接口；/n所述离子分离通道中，离子由离子引入狭缝引入，经由离子分离通道后在电场引导下经离子引出狭缝引出在阵列检测器上得到信号。/n
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