[发明专利]液晶配向力仿真方法、系统、设备及存储介质有效
| 申请号： | 201911032507.4 | 申请日： | 2019-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN110764315B | 公开（公告）日： | 2022-05-03 |
| 发明（设计）人： | 张愉;兰松;陈兴武;曾德仁;谢忠憬 | 申请（专利权）人： | TCL华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/1337 | 分类号： | G02F1/1337;G06F30/23;G06F119/14 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 李新干 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供一种液晶配向力仿真方法、系统、设备及存储介质，以薄膜晶体管阵列基板与彩膜基板之间的间距值、液晶的介电常数以及薄膜晶体管阵列基板与彩膜基板施加至液晶层的电压值作为液晶配向力影响因子，基于单一变量法进行仿真以获取符合预定条件的间距值、介电常数以及电压值，以为实际液晶显示面板选择合适液晶配向力影响因子提供参考依据，有利于液晶显示面板的液晶配向力的控制，且液晶配向力的仿真可以缩短实际液晶显示面板的开发周期且降低研发成本。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 仿真 方法 系统 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种液晶配向力仿真方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：/n根据待进行仿真的液晶显示面板模型中的薄膜晶体管阵列基板与彩膜基板之间的间距值、所述液晶显示面板模型中液晶层的液晶的介电常数、所述薄膜晶体管阵列基板与所述彩膜基板施加至所述液晶层的电压的电压值，控制所述液晶显示面板模型生成第一仿真图像；/n获取生成所述第一仿真图像的所述液晶显示面板模型中的液晶的第一液晶配向力数据；/n调整所述间距值、所述介电常数、所述电压值中的一者，并根据调整后的所述间距值、所述介电常数以及所述电压值控制所述液晶显示面板模型生成第二仿真图像；/n获取生成所述第二仿真图像的所述液晶显示面板模型中的液晶的第二液晶配向力数据；/n输出至少包括第一液晶配向力数据、第二液晶配向力数据的液晶配向力数据集合；/n从所述液晶配向力数据集合中选择符合预定条件的液晶配向力数据，且输出符合所述预定条件的液晶配向力数据对应的间距值、介电常数以及电压值，所述预定条件为所述液晶显示面板模型所生成的仿真图像中关于暗纹的参数小于预定参数的条件。/n
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