[发明专利]一种SFP光模块调试方法及系统有效
申请号: | 201911034074.6 | 申请日: | 2019-10-28 |
公开(公告)号: | CN110752872B | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
发明(设计)人: | 曹婷;夏京盛 | 申请(专利权)人: | 深圳市欧深特信息技术有限公司 |
主分类号: | H04B10/079 | 分类号: | H04B10/079 |
代理公司: | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 | 代理人: | 王永文;刘文求 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种串行吉比特介质无关接口(SGMII)调试方法及系统,所述方法包括步骤:MCU内置比较器连接测试时钟及内部时钟;MCU将测试时钟与内部时钟进行同步,时钟同步后对SFP光模块进行调试;调试结束时,修改所述比较器引脚状态。本发明通过MCU内置比较器将内部时钟和测试时钟进行同步以进行调试,并在调试结束时将修改比较器引脚状态,避免在调试完成出货后出现信号无法传输的情况。 | ||
搜索关键词: | 一种 sfp 模块 调试 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种SFP光模块调试方法,其特征在于,包括步骤:/nMCU内置比较器接收测试时钟及内部时钟;/nMCU将接收的测试时钟与内部时钟进行同步;/n时钟同步后对SFP光模块进行调试;/n调试结束时,修改所述比较器引脚状态。/n
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