[发明专利]分析装置、分析方法和存储介质在审
| 申请号： | 201911043416.0 | 申请日： | 2019-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN111380886A | 公开（公告）日： | 2020-07-07 |
| 发明（设计）人： | 水野裕介;青山朋树;松本绘里佳 | 申请（专利权）人： | 株式会社堀场制作所 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N21/3518;G01N21/31 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 李成必;李雪春 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供分析装置、分析方法和存储介质。基于与测量对象中包含的碳化合物的量相关的信息，准确地修正与荧光X射线相关的信息。分析装置(100)包括：X射线测量装置(2)、光学特性测量装置(3)和运算部(4)。X射线测量装置(2)检测从测量对象产生的荧光X射线。光学特性测量装置(3)获取测量对象中包含的碳化合物的荧光X射线以外的光学特性。运算部(4)基于碳化合物的光学特性，计算与测量对象中包含的碳化合物的量相关的信息，并且基于与该碳化合物的量相关的信息，修正与由X射线测量装置(2)测量的荧光X射线相关的信息。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 装置 方法 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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