[发明专利]一种电子设备的测试方法及装置有效
| 申请号： | 201911051742.6 | 申请日： | 2019-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN110795297B | 公开（公告）日： | 2023-04-28 |
| 发明（设计）人： | 李华伟 | 申请（专利权）人： | 杭州迪普科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人： | 陈蕾 |
| 地址： | 310051 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请提出了一种电子设备的测试方法及装置。本申请使用公共测试项库来储存公共测试项标签和公共测试项的对应关系，在执行精简测试脚本对电子设备进行测试时，测试设备基于公共测试项标签调用公共测试项库中的公共测试项，来完成对于电子设备的共有功能的测试。一方面，由于精简测试脚本中记录公共测试项标签、而非公共测试项，所以精简测试脚本中储存的数据更少，减轻了存储压力；另一方面，当电子设备的共有功能发生变更时，与现有的更新所有测试脚本中的公共测试项相比，由于本申请只需要修改公共测试项库中与该变更功能对应的公共测试项，所以可以大大提高变更公共测试项的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子设备 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电子设备的测试方法，其特征在于，应用于测试设备，所述方法包括：/n读取与待测试的目标电子设备对应的精简测试脚本，所述精简测试脚本包括目标公共测试项标签和目标独立测试项；/n在预设的公共测试项库中，查找所述目标公共测试项标签所指示的目标公共测试项；/n基于所述目标独立测试项与所述目标公共测试项测试所述目标电子设备；/n其中，目标公共测试项用于测试所述目标电子设备与其他电子设备共有的功能；所述目标独立测试项用于测试所述目标电子设备独有的功能。/n
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